更新時間：2023-08-18
Maple-II光致發光光譜儀特點：顯微光致發光/低溫-光致發光及電致發光測量可適用高精密光致發光測繪到0.01nm為止的高空間分辨率自動化：波長監測，濾波及激光器范圍
Maple-II光致發光光譜儀
1）Maple-II, Micro PL System
特點：
顯微光致發光/低溫-光致發光及電致發光測量
可適用高精密光致發光測繪
到0.01nm為止的高空間分辨率
自動化：波長監測，濾波及激光器范圍
Maple-II光致發光光譜儀
2）SC-100 ,Macro光致發光/PLE測量
特點：
緊湊的模塊化設計及經濟的選擇
多激發源（到9）
單獨及光纖耦合半導體激光器輸入輸出
用戶自定義系統
3）SC-100FS，Macro PL/壽命測量
特點：
時間分辨率單光子計數模塊
時間分辨能力：25ps/1ns（長距離模式）
簡便及精密的電壓監測
光致發光及熒光的脈沖以及CW源
作為本社的拉曼光致發光系統其結構簡便
參數：
| Maple-II | SC-100 | SC-100FS | |
檢測范圍 | 200~5000nm | 200~5000nm | 200~5000nm（200-1600nm for Time） | |
光譜分辨率 | 0.015nm/pixel
| |||
雜散光阻斷 | 5*10-6 | |||
輸入源 | 246-1064（laser combine up to 3 line） | 246-1064（laser combine up to 9 wavelength） | ||
探測器 | CCD/PMT/PD | CCD/PMT/PD/MCP | ||
自動化 | Laser line，power ,wavelength ,resolution polarization control by sw | |||
共焦模塊 | Real confocal pinhole/slit | X | X | |
物鏡 | X10~X100(266-1800nm) | |||
束斑尺寸 | ＜1μm | ＜50~100μm | ||
低溫選項 | ~4k(77k) | |||
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